固纬GUT-6000A集成电路测试仪|集成电路分析仪
添加时间:2012-10-07 22:43:16

固纬GUT-6000A集成电路测试仪|集成电路分析仪

详细技术指标

 

测试范围
  54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
55 及 75 系列 TTL
量测种类
  约 1800 种
测试电压
  5V DC
测试时间
  高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
使用电源
  交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
附件
  电源线 x 1, 操作手册 x 1
尺寸及重量
  335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤


固纬GUT-6000A集成电路测试仪|集成电路分析仪

标签: 集成电路测试仪 集成电路分析仪  
分类: 台湾固纬  
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